局部放电量测试方法 一、局部放电测试目的及意义
局部放电：是指设备绝缘系统中部分被击穿的电气放电，这种放电可以发生在导体(电极) 附近，也可发生在其它位置。 局部放电的种类：
①绝缘材料内部放电（固体-空穴；液体-气泡）； ②表面放电；
③高压电极尖端放电。
局部放电的产生：设备绝缘内部存在弱点或生产过程中造成的缺陷，在高压电场作用下发生重复击穿和熄灭现象-局部放电。 局部放电的特点：
①放电能量很小，短时间内存在不影响电气设备的绝缘强度； ②对绝缘的危害是逐渐加大的，它的发展需要一定时间-累计效应-缺陷扩大-绝缘击穿。
③对绝缘系统寿命的评估分散性很大。发展时间、局放种类、产生位置、绝缘种类等有关。
④局部放电试验属非破坏试验。不会造成绝缘损伤。 二、局部放电测试的目的和意义：
确定试品是否存在放电及放电是否超标, 确定局部放电起始和熄灭电压。发现其它绝缘试验不能检查出来的绝缘局部隐形缺陷及故障。 局部放电主要参量：
①局部放电的视在电荷q ： 电荷瞬时注入试品两端时, 试品两端电压的瞬时变化量与试品局部放电本身所引起的电压瞬变量相等的电荷量, 一般用pC(皮库) 表示。
②局部放电试验电压： 按相关规定施加的局部放电试验电压，在此电压下局部放电量不应超过规定的局部放电量值。
③规定的局部放电量值： 在规定的电压下，对给定的试品，在规程或规范中规定的局部放电参量的数值。
①试前准备：试品表面应清洁干燥，其温度和环境温度一致，试验前试品不应受机械、热和电的作用。
②校验测试回路的灵敏度，应不低于试品允许放电量的50%。
③高压引线应采用蛇皮管，与试品连接处应紧密，必要时加屏蔽。 ④试品、测试设备可靠接地，最好一点接地，接地线尽量短。 ⑤试验回路要紧凑，试品远离其他物品。 2．干扰的来源、识别和抑制
①来源
a. 电源干扰信号 b. 接地系统的干扰 c. 空间干扰信号
d. 测试回路本身的干扰信号
②校验测试回路的灵敏度，应不低于试品允许放电量的50%。 a. 测试回路通电，不升压仪器指示主要是电源干扰。
b. 不带试品，升压到额定，此时干扰主要来自升压器及与高压连接的各设备。
c. 测试回路不通电，仪器指示主要是空间干扰信号。 d. 利用示波器识别其他干扰信号。 ③抑制
a. 从波形的特点分析区别，读取放电脉冲。 b. 在电源回路和高压回路加滤波器。 c. 测量装置选择合适的频率和中心频率。 d. 采用平衡测试回路 e. 时间开窗法。
局部放电量测试方法 一、局部放电测试目的及意义
局部放电：是指设备绝缘系统中部分被击穿的电气放电，这种放电可以发生在导体(电极) 附近，也可发生在其它位置。 局部放电的种类：
①绝缘材料内部放电（固体-空穴；液体-气泡）； ②表面放电；
③高压电极尖端放电。
局部放电的产生：设备绝缘内部存在弱点或生产过程中造成的缺陷，在高压电场作用下发生重复击穿和熄灭现象-局部放电。 局部放电的特点：
①放电能量很小，短时间内存在不影响电气设备的绝缘强度； ②对绝缘的危害是逐渐加大的，它的发展需要一定时间-累计效应-缺陷扩大-绝缘击穿。
③对绝缘系统寿命的评估分散性很大。发展时间、局放种类、产生位置、绝缘种类等有关。
④局部放电试验属非破坏试验。不会造成绝缘损伤。 二、局部放电测试的目的和意义：
确定试品是否存在放电及放电是否超标, 确定局部放电起始和熄灭电压。发现其它绝缘试验不能检查出来的绝缘局部隐形缺陷及故障。 局部放电主要参量：
①局部放电的视在电荷q ： 电荷瞬时注入试品两端时, 试品两端电压的瞬时变化量与试品局部放电本身所引起的电压瞬变量相等的电荷量, 一般用pC(皮库) 表示。
②局部放电试验电压： 按相关规定施加的局部放电试验电压，在此电压下局部放电量不应超过规定的局部放电量值。
③规定的局部放电量值： 在规定的电压下，对给定的试品，在规程或规范中规定的局部放电参量的数值。
①试前准备：试品表面应清洁干燥，其温度和环境温度一致，试验前试品不应受机械、热和电的作用。
②校验测试回路的灵敏度，应不低于试品允许放电量的50%。
③高压引线应采用蛇皮管，与试品连接处应紧密，必要时加屏蔽。 ④试品、测试设备可靠接地，最好一点接地，接地线尽量短。 ⑤试验回路要紧凑，试品远离其他物品。 2．干扰的来源、识别和抑制
①来源
a. 电源干扰信号 b. 接地系统的干扰 c. 空间干扰信号
d. 测试回路本身的干扰信号
②校验测试回路的灵敏度，应不低于试品允许放电量的50%。 a. 测试回路通电，不升压仪器指示主要是电源干扰。
b. 不带试品，升压到额定，此时干扰主要来自升压器及与高压连接的各设备。
c. 测试回路不通电，仪器指示主要是空间干扰信号。 d. 利用示波器识别其他干扰信号。 ③抑制
a. 从波形的特点分析区别，读取放电脉冲。 b. 在电源回路和高压回路加滤波器。 c. 测量装置选择合适的频率和中心频率。 d. 采用平衡测试回路 e. 时间开窗法。