X射线荧光光谱法分析矿石样品时的精确应用

粉末压片-X射线荧光光谱法工作曲线的精确调整

申卫龙

（巴彦淖尔西部铜业有限公司质检中心， 临河 015000）

摘要：应用Ｘ射线荧光光谱法分析了矿石样品。将粉碎至粒径为０．０８８ｍｍ的矿样用

模压法在３２ＭＰａ压力条件下加压４０ｓ，压制成直径为４０ｍｍ，厚度为３ｍｍ的片样。试验从生产线上选取１５个其中各组分元素含量呈梯度分布的样品以抵消其基体效应，并选用一组已知样品制作工作曲线。以ＭＸＦ-２４００型Ｘ射线荧光光谱仪所附带的ＰＣ-ＭＸＦ-Ｅ软件中的校正公式，通过化学计量学处理，包括拟合评估、遗传算法及收敛条件的满足等，达到了Ｘ射线荧光光谱法分析矿石样品时工作曲线的精确调整。应用此方法分析了一件地质样品，所测定的铜、铅、锌３种元素的含量与化学法所测得的结果完全一致，又用同一样片对其中的５项组分进行６次测定，所得测定值的相对标准偏差均小于5％。

关键词：Ｘ射线荧光光谱法；工作曲线；精确调整；矿样

测定矿石中各组分含量的传统方法为化学法[1] ，然而随着现代化建设的不断深入，金属矿产、金属加工产业的现代化和规模化对检测手段提出了更快更准的要求。通常采用的滴定法、光度法、原子吸收光谱法、电感耦合等离子体发射光谱法（ICP-AES）[2]等检测方法过程相对繁琐、操作复杂，分析时间过长，已经不能满足及时、准确指导实际生产的需求。X射线荧光光谱法（XRF）具有测试成本低、分析速度快、精确度高、重现性好、可同时测定多种元素等优点[3-6]，目前国内外文献中用XRF法测定岩石、土壤中各元素的方法研究较多[7-8]，已广泛应用于矿产采选、金属冶炼、金属精炼和新材料制备等众多行业。粉末压片-XRF是其中最简单，最快捷，而且稳定、环保的首选方法。

在粉末压片-XRF分析中，用适合的标准样品绘制出适宜的工作曲线是决定仪器高效分析的前提和关键，否则所有的工作都是徒劳的。本次试验基于XRF中的化学计量学方法和应用的数学、统计学原理 [9]，利用偏差法对工作曲线进行优化调整，最终使之取代传统化学法，充分满足了金属矿产采选、冶炼、深加工等各级生产线及时、准确的检测需求。为监

1

收稿日期：2012-10-5

作者简介：申卫龙（1983—），男，蒙古族，内蒙古赤峰人，助理工程师，学士学位，主要从事岩矿分析工作；[email protected]

控生产工艺、优化生产流程及时提供准确的指导数据，在起到高效引导生产作用的同时为企业创造出巨大的经济效益。 1. 试验部分 1.1 仪器与试剂

岛津MXF-2400多道型X射线荧光光谱仪，PCMF软件。 BP-1型粉末压样机，聚氯乙烯塑料环。 GJ100-5型密封式化验制样粉碎机。 1.2 仪器工作条件

薄窗口型，75μm，铑靶X射线管，管电压40 kV，管电流70 mA。其他测量条件见表1。

表1仪器工作参数

Table. 1 Working parameters of instrument 元素 分析谱线 分光晶体 Cu Pb Zn Fe S

Ka Lb1 Ka Ka Ka

LiF LiF LiF LiF NaCl

2θ/() 45.03 28.26 41.80 57.52 110.60

。

检测器 测量时间t/s Ar Ar Ar Ar Ne

40 40 40 40 40

脉冲高度分布 LL 15～105 30～160 15～115 5～190 10～150

①

UL

①脉冲高度分布是通过脉冲高度分析器选择出的的脉冲幅度的最小(LL)和最大阈值(UL)，是从某些干扰线和散射线中分辨出的分析线脉冲信号。可以在一定范围内消除重叠干扰，提高分析的灵敏度和准确度。

1.3 试验方法 1.3.1. 样品制备

将样品放入振动磨样机中研磨4min，制成粒径为0.088mm(180目) [10]的粉末，以满足均匀致密的要求的同时也降低了粒度效应[11]。用四分法得到试样，取适量的试样填满聚氯乙烯塑料环，用不锈钢样坯磨具垫底，置于粉末压样机上，在32MPa压力下，保压40s，制成高3mm、直径40mm、表面光洁、无裂痕的样片。用洗耳球将样片表面吹干净后按顺序放置。

1.3.2. 标准样品的选择与工作曲线的绘制

为了保证基体信息的相同性、提高仪器测定结果的准确度，此次试验从生产样品中选取15个各元素含量成梯度分布的常规系列样品作为标准样品。将已反复经过化学定值和权威机构外检的校准样品按照试验方法制片，在选定的仪器工作条件下测定各元素的荧光强度，以目标元素含量为横坐标，对应的荧光强度为纵坐标，绘制工作曲线。 1.3.3. 工作曲线的校正

在XRF的矿产分析中基体效应普遍存在，是分析误差的主要来源。因为选择的标准样品为生产线上的系列样品，其组分相对较为稳定，采用dj方法校正曲线[12]。校正公式为：

（1） ibIic(1djj)

ji

jajIjbj（2）





2

式中：

ωi——分析元素校正后的含量；

dj——分析元素的共存元素的吸收校正系数； i——分析元素； j——共存元素；

ωj——分析元素的共存元素的含量； Ii——分析元素的荧光强度值；

Ij——共存元素的荧光强度值。

2. 结果与讨论

表2为初绘的工作曲线条件下测得的地质样中铜XRF值与化学值的对比情况。 表2分析结果对比

因为系统误差是时刻存在的，在工作曲线绘制的过程中，要经过标准样品定值和仪器对标准样品元素强度扫描两个阶段。为了减小化学分析中的系统误差对XRF法的影响，提高仪器的准确度，试验将共存元素的含量值直接用其对应的荧光强度值代替。即理论上：aj=1，bj=0；则上公式（3）变为： （4） ibIic(1djIj)

在XRF的PCMF软件中利用公式（4）以ωi对应的标准样品的标准值、Ii、Ij的数据进行回归分析得到b、c和∑dj。寻找上式的最优解成为XRF的关键问题。

粉末压片法的基体效应主要是由试样的粒度和矿物的结构引起的[13]。一定波长的X射线荧光光强度在一定范围内与粉末样品的粒度有关，当粒度小到一定程度时，光强开始趋于稳定[14]。试验中通过延长固定研磨时间、过0.088mm筛加以解决。由于矿物组成及结构复杂，即使是同一元素，矿物结构的不同测得的荧光强度也不同。测定复杂的矿物体系，采用dj方法仅校正由十几个标准样品绘制而成的工作曲线仍不能有效消除基体效应。其根本原因在于选定的标准样品群体中所包含的基体有用信息没能很好的覆盖生产线上产品的随机基体信息。即公式（4）中的回归参数（b、c、∑dj）没有落在合理的范围之内。要使公式（4）得到最优解，必须通过扩大标准样品群来搜集并保存最重要的基体有用信息。

遗传算法(GA)是一种基于生物学中适者生存的进化原理，通过保存最重要的有用信息并避免体系退化，使得一个模型优化并最终得到最优解的方法[9]。因其在解决实际问题中的实用性而被广泛的应用。遗传算法在XRF光谱拟合中已得到成功应用，主要用于解谱。其显著特点是谱峰识别率优于传统算法，并具有全局搜寻能力。研究表明，应用于EDXRF光

ibIic1djajIjbj（3）





3

谱时，遗传算法 (GA)优于标准Marquardt-Levenberg(ML)算法，GA比ML的谱线识别率更高，限定条件较少，例如对土壤样品，GA可拟合20个峰，而ML仅拟合6个峰，5个未能分辨出。试验二次套用此方法的全局查找能力来优化标准样品群，并按其操作执行的四步过程进行工作曲线的优化调整。 2.1 工作曲线的精确调整

（一）数据初始化：将公式（4）作为XRF的期望输出表达式，即工作曲线数串。 （二）拟合评估：工作曲线拟合评估方法为XRF分析未知样品的测定值与外标值的偏差、PCMF软件上工作曲线中标准值与计算值的偏差。

（三）遗传操作：将XRF的分析数据与外标值对比，测定结果准确度较差（如表2中偏差大于0.20%的样品）的样品就表明该类样品中蕴含着大量的基体有用信息，应该添加到标准样品群中参加dj校正。改善公式（4）中的b、c、∑d j值使其趋于合理，以优化曲线进而使XRF得到优质解。与此同时，根据遗传算法中适者生存的进化论原理，随着标准样品群的扩大，曲线中基体有用信息的积累和可靠性不断提高，b、c、∑dj会逐步趋于合理，重新确定的曲线常数在回归计算时会使个别标准样品产生变异，在工作曲线上表现为标准值和计算值间出现较大的偏差。根据第二步中提到的两个偏差的同向变化关系，即曲线上标准样品标准值高于计算值，且偏差较大时，这些标准样品会通过交叉影响曲线参数（b、c、∑dj）而使XRF测定值高于外标值；反之亦然。根据上述关系依靠测定值与外标值的偏差正负进行选择、删除相应的偏差较大的个别标准样品，并重新计算回归曲线参数。

（四）收敛条件：上述添加、删除过程反复迭代进行几次，能够很快满足收敛条件——XRF测定值与化学法基本吻合（误差：≤有色金属行业误差范围∕2）。 2.2 方法准确度

用上述方法精确调整的工作曲线分别测定地质样品中铜、铅、锌的含量并与化学法对照，结果见表3。 表3方法准确度

分别对来自浮选车间搅拌桶内的原矿和磁选车间的Fe精粉样品用同一样片分析6次，将测定结果进行统计分析（表4）。 表4 方法精密度

1 2 3

Cu 1.312 1.311 1.312

Pb 1.542 1.540 1.543

4

Zn 1.687 1.689 1.689

Fe 64.342 64.533 64.299

S 2.777 2.768 2.733

4 5 6 平均值 标准偏差 RSD/% 1.313 1.311 1.315 1.312 0.00151 0.115 1.541 1.542 1.543 1.542 0.00117 0.076 1.688 1.688 1.688 1.688 0.00075 0.045 64.309 64.621 64.443 64.425 0.132 0.204 2.722 2.739 2.732 2.745 0.022 0.803

法在矿产检测中应用的一般规律；纠正了以往用户通过盲目改动标准值校正曲线的错误方法。试验证明该方法快速、稳定、准确，可以满足金属矿产开采、浮选加工以及冶炼炉前检测等各级生产线的常规检测要求，进而为各类企业创造着隐形的经济效益。 3. 参考文献

[1] 冶金工业部信息标准研究院原材料室，中国标准出版社第五编辑室.冶金用金属矿

产品——原料及其实验方法标准汇编[M].北京：中国标准出版社,2005:127-761.

[2] 刘述戈，微波消解-电感耦合等离子体原子发射光谱法测定铁矿石中8种成分[J] .

冶金分析，2006,26（6）：40-43

[3] 刘江斌，党亮，余宇，等X射线荧光光谱法同时测定铁矿石中的主次量组分[J].

分析测试技术与仪器,2009,15(4):226-228.

[4] 林忠，蒋晓光，李卫刚，等波长色散X射线荧光光谱法测定铁矿石中铁硅镁铝磷

锰钛[J],理化检验-化学分册,2003,39(4):207-208.

[5] 高文红，王文生，陈雪琴，等.X荧光玻璃熔片法分析铁矿石[J].山东冶

金,2000,22(2):48-49.

[6] 袁家义，吕振生，姜云.X射线荧光光谱熔融制样法测定铁矿石中主次量组分[J].

岩矿测试,2007,26(2):159-162

[7] 罗立强，梁国立，马光祖，等.地质样品中岩性自动分类X射线荧光光谱分析研究

[J].分析科学学报,1996,13(3)：553-558.

[8] 李国会.X射线荧光光谱法测定橄榄岩主次痕量元素[J].光谱实验

室,1997,14(6):994-998.

[9] 罗立强，詹秀春，李国会.X射线荧光光谱仪[M].1版.北京：化学工业出版

社,2008:96-104.

[10] 宋子新.MXF系列X射线荧光光谱仪在水泥生产中的应用[J]..理化检验-化学分

册,2008,44（增）:13-15.

[11] 吉昂，陶广仪，卓尚军，等.X射线荧光光谱分析[M]. 北京：科学出版

社,2003:154-155.

[12] 岛津公司.岛津多道X荧光光谱仪MXF系列PC-MXF-E软件使用手册[M].苗国玉

译，岛津公司研究及发展部分析测试部,2003:30-55.

[13] 仵利萍，刘卫.X射线荧光光谱法测定铁矿石中的化学成分[J].矿产综合利

用,2010(3):42-45. [14] 单华珍，卓尚军，盛成，等.粉末压片法波长色散X射线荧光光谱分析铁矿石 样

品的矿物效应校正初探[J].光谱学与光谱分析,2008,28(7):1661-1664.

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粉末压片-X射线荧光光谱法工作曲线的精确调整

申卫龙

（巴彦淖尔西部铜业有限公司质检中心， 临河 015000）

摘要：应用Ｘ射线荧光光谱法分析了矿石样品。将粉碎至粒径为０．０８８ｍｍ的矿样用

模压法在３２ＭＰａ压力条件下加压４０ｓ，压制成直径为４０ｍｍ，厚度为３ｍｍ的片样。试验从生产线上选取１５个其中各组分元素含量呈梯度分布的样品以抵消其基体效应，并选用一组已知样品制作工作曲线。以ＭＸＦ-２４００型Ｘ射线荧光光谱仪所附带的ＰＣ-ＭＸＦ-Ｅ软件中的校正公式，通过化学计量学处理，包括拟合评估、遗传算法及收敛条件的满足等，达到了Ｘ射线荧光光谱法分析矿石样品时工作曲线的精确调整。应用此方法分析了一件地质样品，所测定的铜、铅、锌３种元素的含量与化学法所测得的结果完全一致，又用同一样片对其中的５项组分进行６次测定，所得测定值的相对标准偏差均小于5％。

关键词：Ｘ射线荧光光谱法；工作曲线；精确调整；矿样

测定矿石中各组分含量的传统方法为化学法[1] ，然而随着现代化建设的不断深入，金属矿产、金属加工产业的现代化和规模化对检测手段提出了更快更准的要求。通常采用的滴定法、光度法、原子吸收光谱法、电感耦合等离子体发射光谱法（ICP-AES）[2]等检测方法过程相对繁琐、操作复杂，分析时间过长，已经不能满足及时、准确指导实际生产的需求。X射线荧光光谱法（XRF）具有测试成本低、分析速度快、精确度高、重现性好、可同时测定多种元素等优点[3-6]，目前国内外文献中用XRF法测定岩石、土壤中各元素的方法研究较多[7-8]，已广泛应用于矿产采选、金属冶炼、金属精炼和新材料制备等众多行业。粉末压片-XRF是其中最简单，最快捷，而且稳定、环保的首选方法。

在粉末压片-XRF分析中，用适合的标准样品绘制出适宜的工作曲线是决定仪器高效分析的前提和关键，否则所有的工作都是徒劳的。本次试验基于XRF中的化学计量学方法和应用的数学、统计学原理 [9]，利用偏差法对工作曲线进行优化调整，最终使之取代传统化学法，充分满足了金属矿产采选、冶炼、深加工等各级生产线及时、准确的检测需求。为监

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收稿日期：2012-10-5

作者简介：申卫龙（1983—），男，蒙古族，内蒙古赤峰人，助理工程师，学士学位，主要从事岩矿分析工作；[email protected]

控生产工艺、优化生产流程及时提供准确的指导数据，在起到高效引导生产作用的同时为企业创造出巨大的经济效益。 1. 试验部分 1.1 仪器与试剂

岛津MXF-2400多道型X射线荧光光谱仪，PCMF软件。 BP-1型粉末压样机，聚氯乙烯塑料环。 GJ100-5型密封式化验制样粉碎机。 1.2 仪器工作条件

薄窗口型，75μm，铑靶X射线管，管电压40 kV，管电流70 mA。其他测量条件见表1。

表1仪器工作参数

Table. 1 Working parameters of instrument 元素 分析谱线 分光晶体 Cu Pb Zn Fe S

Ka Lb1 Ka Ka Ka

LiF LiF LiF LiF NaCl

2θ/() 45.03 28.26 41.80 57.52 110.60

。

检测器 测量时间t/s Ar Ar Ar Ar Ne

40 40 40 40 40

脉冲高度分布 LL 15～105 30～160 15～115 5～190 10～150

①

UL

①脉冲高度分布是通过脉冲高度分析器选择出的的脉冲幅度的最小(LL)和最大阈值(UL)，是从某些干扰线和散射线中分辨出的分析线脉冲信号。可以在一定范围内消除重叠干扰，提高分析的灵敏度和准确度。

1.3 试验方法 1.3.1. 样品制备

将样品放入振动磨样机中研磨4min，制成粒径为0.088mm(180目) [10]的粉末，以满足均匀致密的要求的同时也降低了粒度效应[11]。用四分法得到试样，取适量的试样填满聚氯乙烯塑料环，用不锈钢样坯磨具垫底，置于粉末压样机上，在32MPa压力下，保压40s，制成高3mm、直径40mm、表面光洁、无裂痕的样片。用洗耳球将样片表面吹干净后按顺序放置。

1.3.2. 标准样品的选择与工作曲线的绘制

为了保证基体信息的相同性、提高仪器测定结果的准确度，此次试验从生产样品中选取15个各元素含量成梯度分布的常规系列样品作为标准样品。将已反复经过化学定值和权威机构外检的校准样品按照试验方法制片，在选定的仪器工作条件下测定各元素的荧光强度，以目标元素含量为横坐标，对应的荧光强度为纵坐标，绘制工作曲线。 1.3.3. 工作曲线的校正

在XRF的矿产分析中基体效应普遍存在，是分析误差的主要来源。因为选择的标准样品为生产线上的系列样品，其组分相对较为稳定，采用dj方法校正曲线[12]。校正公式为：

（1） ibIic(1djj)

ji

jajIjbj（2）





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式中：

ωi——分析元素校正后的含量；

dj——分析元素的共存元素的吸收校正系数； i——分析元素； j——共存元素；

ωj——分析元素的共存元素的含量； Ii——分析元素的荧光强度值；

Ij——共存元素的荧光强度值。

2. 结果与讨论

表2为初绘的工作曲线条件下测得的地质样中铜XRF值与化学值的对比情况。 表2分析结果对比

因为系统误差是时刻存在的，在工作曲线绘制的过程中，要经过标准样品定值和仪器对标准样品元素强度扫描两个阶段。为了减小化学分析中的系统误差对XRF法的影响，提高仪器的准确度，试验将共存元素的含量值直接用其对应的荧光强度值代替。即理论上：aj=1，bj=0；则上公式（3）变为： （4） ibIic(1djIj)

在XRF的PCMF软件中利用公式（4）以ωi对应的标准样品的标准值、Ii、Ij的数据进行回归分析得到b、c和∑dj。寻找上式的最优解成为XRF的关键问题。

粉末压片法的基体效应主要是由试样的粒度和矿物的结构引起的[13]。一定波长的X射线荧光光强度在一定范围内与粉末样品的粒度有关，当粒度小到一定程度时，光强开始趋于稳定[14]。试验中通过延长固定研磨时间、过0.088mm筛加以解决。由于矿物组成及结构复杂，即使是同一元素，矿物结构的不同测得的荧光强度也不同。测定复杂的矿物体系，采用dj方法仅校正由十几个标准样品绘制而成的工作曲线仍不能有效消除基体效应。其根本原因在于选定的标准样品群体中所包含的基体有用信息没能很好的覆盖生产线上产品的随机基体信息。即公式（4）中的回归参数（b、c、∑dj）没有落在合理的范围之内。要使公式（4）得到最优解，必须通过扩大标准样品群来搜集并保存最重要的基体有用信息。

遗传算法(GA)是一种基于生物学中适者生存的进化原理，通过保存最重要的有用信息并避免体系退化，使得一个模型优化并最终得到最优解的方法[9]。因其在解决实际问题中的实用性而被广泛的应用。遗传算法在XRF光谱拟合中已得到成功应用，主要用于解谱。其显著特点是谱峰识别率优于传统算法，并具有全局搜寻能力。研究表明，应用于EDXRF光

ibIic1djajIjbj（3）





3

谱时，遗传算法 (GA)优于标准Marquardt-Levenberg(ML)算法，GA比ML的谱线识别率更高，限定条件较少，例如对土壤样品，GA可拟合20个峰，而ML仅拟合6个峰，5个未能分辨出。试验二次套用此方法的全局查找能力来优化标准样品群，并按其操作执行的四步过程进行工作曲线的优化调整。 2.1 工作曲线的精确调整

（一）数据初始化：将公式（4）作为XRF的期望输出表达式，即工作曲线数串。 （二）拟合评估：工作曲线拟合评估方法为XRF分析未知样品的测定值与外标值的偏差、PCMF软件上工作曲线中标准值与计算值的偏差。

（三）遗传操作：将XRF的分析数据与外标值对比，测定结果准确度较差（如表2中偏差大于0.20%的样品）的样品就表明该类样品中蕴含着大量的基体有用信息，应该添加到标准样品群中参加dj校正。改善公式（4）中的b、c、∑d j值使其趋于合理，以优化曲线进而使XRF得到优质解。与此同时，根据遗传算法中适者生存的进化论原理，随着标准样品群的扩大，曲线中基体有用信息的积累和可靠性不断提高，b、c、∑dj会逐步趋于合理，重新确定的曲线常数在回归计算时会使个别标准样品产生变异，在工作曲线上表现为标准值和计算值间出现较大的偏差。根据第二步中提到的两个偏差的同向变化关系，即曲线上标准样品标准值高于计算值，且偏差较大时，这些标准样品会通过交叉影响曲线参数（b、c、∑dj）而使XRF测定值高于外标值；反之亦然。根据上述关系依靠测定值与外标值的偏差正负进行选择、删除相应的偏差较大的个别标准样品，并重新计算回归曲线参数。

（四）收敛条件：上述添加、删除过程反复迭代进行几次，能够很快满足收敛条件——XRF测定值与化学法基本吻合（误差：≤有色金属行业误差范围∕2）。 2.2 方法准确度

用上述方法精确调整的工作曲线分别测定地质样品中铜、铅、锌的含量并与化学法对照，结果见表3。 表3方法准确度

分别对来自浮选车间搅拌桶内的原矿和磁选车间的Fe精粉样品用同一样片分析6次，将测定结果进行统计分析（表4）。 表4 方法精密度

1 2 3

Cu 1.312 1.311 1.312

Pb 1.542 1.540 1.543

4

Zn 1.687 1.689 1.689

Fe 64.342 64.533 64.299

S 2.777 2.768 2.733

4 5 6 平均值 标准偏差 RSD/% 1.313 1.311 1.315 1.312 0.00151 0.115 1.541 1.542 1.543 1.542 0.00117 0.076 1.688 1.688 1.688 1.688 0.00075 0.045 64.309 64.621 64.443 64.425 0.132 0.204 2.722 2.739 2.732 2.745 0.022 0.803

法在矿产检测中应用的一般规律；纠正了以往用户通过盲目改动标准值校正曲线的错误方法。试验证明该方法快速、稳定、准确，可以满足金属矿产开采、浮选加工以及冶炼炉前检测等各级生产线的常规检测要求，进而为各类企业创造着隐形的经济效益。 3. 参考文献

[1] 冶金工业部信息标准研究院原材料室，中国标准出版社第五编辑室.冶金用金属矿

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[2] 刘述戈，微波消解-电感耦合等离子体原子发射光谱法测定铁矿石中8种成分[J] .

冶金分析，2006,26（6）：40-43

[3] 刘江斌，党亮，余宇，等X射线荧光光谱法同时测定铁矿石中的主次量组分[J].

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[4] 林忠，蒋晓光，李卫刚，等波长色散X射线荧光光谱法测定铁矿石中铁硅镁铝磷

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[5] 高文红，王文生，陈雪琴，等.X荧光玻璃熔片法分析铁矿石[J].山东冶

金,2000,22(2):48-49.

[6] 袁家义，吕振生，姜云.X射线荧光光谱熔融制样法测定铁矿石中主次量组分[J].

岩矿测试,2007,26(2):159-162

[7] 罗立强，梁国立，马光祖，等.地质样品中岩性自动分类X射线荧光光谱分析研究

[J].分析科学学报,1996,13(3)：553-558.

[8] 李国会.X射线荧光光谱法测定橄榄岩主次痕量元素[J].光谱实验

室,1997,14(6):994-998.

[9] 罗立强，詹秀春，李国会.X射线荧光光谱仪[M].1版.北京：化学工业出版

社,2008:96-104.

[10] 宋子新.MXF系列X射线荧光光谱仪在水泥生产中的应用[J]..理化检验-化学分

册,2008,44（增）:13-15.

[11] 吉昂，陶广仪，卓尚军，等.X射线荧光光谱分析[M]. 北京：科学出版

社,2003:154-155.

[12] 岛津公司.岛津多道X荧光光谱仪MXF系列PC-MXF-E软件使用手册[M].苗国玉

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